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光学数码显微镜DSX500i
产品概要 技术规格

 

DSX500i是搭载了13倍光学变焦的电动倒置金相显微镜。
舒适的操作性能
DSX系列并非操作显微镜本身, 而是通过直观、易懂的画面菜单进行操作。可根据用户熟练程度选择操作模式, 并通过触摸屏、鼠标、操纵杆等的操作方式, 实现了舒适的操作性能。无论是具备显微镜方面的知识和技能的操作人员, 还是对显微镜不熟悉的操作人员, 都能直观的完成操作。
用于不同熟练度和用途的3个操作模式
在DSX系列上,根据用户的熟练程度,设计了2个操作模式:"标准模式"和"初级模式"。同时,还配置了可以自定义标准模式,用于常规工作的"操作员模式"。此外,根据启动应用程序时输入的ID和密码,可以调出各用户设置的观察、分析和测量条件等环境,显示该用户的常用画面。

初级模式
只要按照画面的提示步骤操作,就能得到输出的模式。

标准模式
为了使显微镜的熟练操作人员能够直观完成操作,按照工作流程配置了必要按钮等的模式。运用电动控制提高了操作速度。

操作员模式
自定义标准模式用于常规工作的模式。可以提高重复性工作的效率。

改变显微镜操作概念的用户界面


操作直观而舒适

在DSX500系列上,不需要为观察和测量进行复杂的设置和调节。电动载物台、焦点、焦距、照明等的调节、各种观察法的切换等,都可以通过触屏、鼠标、操控杆控制。可以直接触摸实时影像,进行平移和缩放操作,直观而轻松获取所需的目标影像。此外,还配置了根据不同样品自动调节焦点和照明的"自动对焦/自动增益"功能。

" 宏观地图"
无论是提高放大倍率缩小视场范围,还是改变观察方法进行暗视场观察,都不再会遗漏观察位置。观察过程中的位置以明视场影像显示在"宏观地图"上。也可以将"全景功能"拼接的影像显示在"宏观地图"上。


显示观察位置的"宏观地图"

" 光学变焦" 


实现无缝倍率转换

采用无缝放大和缩小,改变倍率时不会发生视场遗漏而错过观察位置。DSX500系列以13倍光学变焦搭配30倍数码变焦,实现了高倍观察。

高速导出影像。
DSX系列只需从画面显示的菜单中选择项目, 即可执行所需功能。只需按下一个按钮, 就可以完成观察法切换及图像处理。可以从适于样品条件的自动拍摄的多个图像中, 选择出所需的图像。以简洁的操作步骤, 进行快速而适当的观察。
" 多图预览功能" 让显微镜提供结果
DSX系列显微镜,在显微镜操作上新增了"选择"功能。伤痕、凹凸、异物等,选择需要观察的项目后,会在DSX500i的"多图预览画面"上一览显示通过各观察方法拍到的影像,只要从中选择所需的一幅就可以了。所以,即使是显微镜的初级操作人员也可以获得与操作人员相同条件的结果。可以自定义"多图预览画面",事先登记好每个样品的观察条件,谁都可以随时使用相同条件完成观察,从而缩小了偏差并减少了间歇时间。

可以在"多图预览画面"的一览显示中,选择符合观察目的的影像
"HDR" 
如果仅以加强灯光来处理"暗处泛黑(黑斑)"问题,反而会引起"亮处泛白(飞白)"的新问题。DSX系列的"HDR"(高动态范围)功能,利用变换曝光拍摄的多张图片进行合成,解决了该课题。不但表面微细凹凸得到强调,同时还能消除光晕,获得真实反映样品表面的影像,因而轻松捕捉到缺陷。

无论是暗视场影像还是DIC影像,"HDR"都可以一键完成清晰观察。
利用"WiDER" 实时观察有亮度差的样品
"WiDER"可以解决实时影像中"黑斑"与"飞白"问题。通过大幅扩展动态范围的逻辑运算,只需一键单击,就可以消除样品表面亮度差,同时消除光晕,实现了对明亮部分及黑暗部分的同步观察。DSX500系列采用了智能图像处理技术,不降低帧速率,是实时观察的选择。
单击切换" 多种观察法"


单击切换观察法

为了能够提供适合观察目的的观察法,DSX500i上配置了工业检查中所必需的所有主要观察法,不需要传统显微镜上的复杂设置和调节。单击一下就可以切换观察法,所以显微镜的初级操作人员也能够快速得到所需的影像。

可通过简单的操作运用各种观察法。能快速获取所需的高分辨率影像。
DSX500系列支持倒置金相显微镜中主要观察法,并在此基础上搭载了MIX(BF+DF),在DSX500系列中实现了轻松检测细微瑕疵、缺陷的功能。为用户提供作为检查、测量的根本的影像。使用"多图预览"功能,可以在观察各种观察法拍摄的影像一览的同时选择图像,让观察法的选择也变得简单。

明视场
明视场观察。光学显微镜中较
普通的观察法。

暗视场
暗视场观察。斜向照射光线,
强调伤痕等。缺陷检查观察法。

微分干涉
微分干涉观察。适用于凹凸不
平的检查对象。

偏振光
简易偏振光观察。是利用了金
属结晶等的偏振光特性的观察
法。

MIX
同时进行明视场观察(BF)和
暗视场观察(DF)。是综合了
明视场的易观察性和暗视场的
检测能力的观察法。

 

简单操作,可视化。
DSX系列无需深度知识及专门技术, 即可观察所需。采用奥林巴斯数字技术,只需按下菜单按钮, 即可得到所需的影像。
" 全景摄影" 把拍摄范围扩大到" 视场外"
"全景摄影"功能去除了观察中的"视场外"界限。在画面上移动观察位置,电动载物台会随之移动,并同时自动完成拼接。此外,一般的显微镜为了追求高分辨率,在提高倍率的同时缩小视场范围。而DSX500i中的"全景摄影"功能可以同时实现高分辨率和大视场,并把观察视场扩大许多倍。

通过手指及鼠标等直观操作,轻松完成拼接效果的"全景摄影"功能(螺栓断面)
" 自动获取" 功能, 提高常规工作的效率
在装配了电动载物台的DSX500系列上,设置好图像的朝向(上下左右、倾斜等)、显示位置、显示方法后,可以连续移动载物台自动开始获取相关数据。在对同一样品执行多次摄影和测量时,可以大幅度缩短拍摄时间。
" 景深扩展功能" , 有凹凸的表面上也能够全面对焦
即使是仔细研磨的样品,但由于材料不同,在邻接部分也可能产生高低差。使用传统显微镜以高倍率观察这些高低差时,没有对焦的面的影像会变得模糊。而DSX系列在高度方向上移动焦点的同时获取影像,能够生成全面对焦的影像。

全面对焦的影像清晰呈现研磨面上的高低差
" 彩色高亮显示功能" , 强调目标内容
DSX系列搭载了"彩色高亮显示功能",可以彩色显示样品的观察所需部分,其他部分则以单色显示。能够拍摄更加明确的观察对象,生成报告时的可以使用更加轮廓鲜明的图像。同时,还可以预先登记需要检测的缺陷及杂质,提高检查效率。
利用" 报告功能" , 迅速生成报告
使用DSX系列,可以在一个应用程序上执行从观察到测量、报告生成的一系列操作。因此,只需在观察、测量完成后,单击一下按钮即可生成报告。提前制作模板,即可简单、快速生成繁琐的报告。报告书可以输出为RTF格式、PDF格式。

能够观察到一般数码显微镜上无法看到的" 影像" 。
像差少、分辨率出色的镜头及高度光学组装技术, 实现了清晰、低失真兼具色彩重现性的影像。而为了提高画质, 对CCD及显卡也进行了调整。再现实际样品, 实现了不同次元的" 可视性" 。
奥林巴斯" 高质量光学系统"实现了不同次元的" 影像"


凝聚了奥林巴斯DNA的光学系统

" 物镜" , 以规格实现高分辨率观察


DSX500系列规格用物镜(共焦75 mm)

DSX500系列上使用的设计的规格用物镜(10倍、40倍),同时实现了可以观察大视场的低倍率和获得高分辨率的高NA。因此,适用于更大范围的高效观察和检查。此外,DSX500系列还可以使用传统的UIS2物镜。

1800万像素的" 高性能、高灵敏度CCD※" 

同时搭载了实现高分辨率的像素转换功能、数字影像处理功能--"细节处理",实时显示每一部分都清晰鲜活的影像。
※4800×3600像素,3CCD模式换算下相当于其3倍

"LED光源" 同时实现准确观察与节能
确保正确观察的同时,作为节能与低成本兼容的显微镜,采用了即使改变光量色温也不变化的LED光源。使用寿命长,可节约维护开销。
可靠性。
DSX5 0 0 系列 保证了测量值的真值近似率( 正确性) 及多次测量值的偏差率( 重复性) ,帮助客户进行正确测量。
双重保证测量精度


DSX500系列溯源系统图

SX500系列确保了2个测量精度指标--XY方向倍率的"正确性"和多次测量偏差较小的"重复性"。从物镜产品开始,根据可追塑性进行精度保证,因此可以发行校准证书及溯源系统图等证件。
※需要本公司服务人员进行校准作业。

设置自动校准功能去除偏差

避免了不同用户带来的偏差,提高了测量结果的可靠性。此外, 还可以在校准报告中, 确认谁在何时设置了校准。
※需要使用的校准样品。

可以执行2D各种测量的丰富的测量项目
DSX500i系列标准装备了2D测量所需的各种项目。另外还能使用同一应用程序将测量结果生成报告。

标准功能有2点间距离、折线、垂线、2圆的中心距离、圆的面积、手绘功能等。

作为选购软件,有粒子分析、卡尺测量。

" 振动修正功能" , 带来稳定的观察、测量环境
搭载"振动修正功能",可对来自外部环境的振动影响进行修正。即使在进行高倍率观察时,也能得到清晰影像。

无修正                                   有修正
与OLYMPUS St ream并用,能够对应分析
晶粒度分析、铸铁分析、非金属夹杂物分析、图表比较等金属组织评价分析等,可以在图像分析软件OLYMPUS Stream上完成。可以在OLYMPUS Stream上读取DSX500i的数据文件,获取校准数据等的所有基本信息,能从多方面(从读取影像到测量、分析、生成报告)灵活对应工作流程。


铸铁分析                                 截点法晶粒度

平面法晶粒度                             非金属夹杂物分析

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