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VIEW Benchmark 250
产品概要

紧凑型影像测量系统



VIEWBenchmark 250可满足 VIEW Micro-Metrology台式测量机带来的高性能和可靠性。光学、照明、可选配的TTL激光、以及图像处理能力使其成为计量系统。
无论是在QA实验室进行产品 检验,亦或是生产车间的测量过程控制。

   

   特征:

   测量范围:300 x 150 x 150 mm
   25公斤承载力
   亚微米的光栅尺分辨率
   平台移动速度X-Y: 150 mm/秒; Z: 100 mm/秒
   误差映射:在XY平面非线性二维纠错
   双重放大光学系统
   可编程多色环形灯(PRL)选项
   TTL激光选项,自动聚焦和扫描功能
   图像处理性能
   双通道,数字式,1.4兆像素的单色相机; 4:1的比例
   次像素精度: 1/10 - 1/50 pixel
   测量软件和数据分析工具可供选择
   平均无故障工作时间 MTBF ≥ 8,000 小时


   Benchmark的应用范围包括:
     . 半导体/电子
   BGA, μBGA, CSP, 倒装芯片, MCM, bump-on-die
   引线框,引线接合
   柔性线路板,连接器
   SMT元件贴装
   锡膏/环氧数脂胶点
   芯片载体和托盒
   喷墨打印机墨盒
   光纤组件和MEMs  
    . 数据存储
   悬置件
   滑块和悬臂组(HGA)
   磁盘介质基板
   . 注塑和机加工件
   模具和刀具
   医疗设备
   燃料喷射部件
   手表组件

上一页:VIEW Benchmark 450
    
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